Knihy od autora Dale E. Newbury

Zobrazeno 1 – 9 z 9 výsledků

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 11-13 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3234 Kč

   Koupit
2. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002

   
   

   U nakladatele na objednávku - Odesíláme za 3-5 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3095 Kč

   Koupit
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
4. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 8-10 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2942 Kč

   Koupit
5. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3611 Kč

   Koupit
6. 

   X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams | Springer Science+Business Media, 1995

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   6578 Kč

   Koupit
7. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
8. 

   Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

   Charles E. Lyman, Dale E. Newbury, Joseph Goldstein, David B. Williams | Springer Science+Business Media, 1990

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
9. 

   X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   6549 Kč

   Koupit

Doručení zdarma pro objednávky nad 1499 Kč Zjistěte více